邵陽X射線熒光光譜儀 健身運動器械

隨著**能源的日益枯竭，資源回收與資源再利用已迫在眉睫。X熒光分析儀可對各種可回收材料（如鋼鐵、有色金屬等合金）進行準確的定量分析。同時也可對各種材料進行品位和牌號的快速和準確的分析。
根據多年的RoHS檢測技術和經驗，以特的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足RoHS的成分檢測的需要，人性化的設計，使測試工作較加輕松完成
性能特點
可自動切換準直器和濾光片
RoHS檢測
內置信噪比增強器，可有效提高儀器信號處理能力25倍以上
智能RoHS軟件，開發，與儀器相得益彰
任意多個可選擇的分析和識別模型
多變量非線性回收程序
技術指標
測量元素：從硫到鈾等 75 種元素
元素含量分析范圍：1ppm-**
RoHS 指令規定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br）檢測限達 1ppm
測量時間：60-300s
能量分辨率：165±5eV
管壓：5-50 kV
管流：50-1000μA
溫度范圍：15-30℃
電源：交流 220V±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）
重量：60kg
自動選擇濾光片
多種準直器自動自由切換
電制冷硅針半導體檢測器
加強金屬元素感度分析器
三重安全保護模式
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
任意多個可選擇的分析和識別模型
一次可同時分析 24 個元素
標準配置
信噪比增強器
自動切換準直器和濾光片，分別針對不同樣品
特的光路增強系統，方便用戶較好地觀察樣品
測量 RoHS，電鍍鍍層，全元素分析，一機多用
電制冷硅針半導體檢測器，摒棄液氮制冷
特別開發測量軟件，操作界面十分友好
內置高清晰攝像頭，方便用戶隨時檢測樣品
的平臺，較方便地調節樣品位置
高貴時尚的外型，帶給您全新的視覺沖擊
樣品腔尺寸：605mm×395mm×100mm
應用領域
電子電器行業，電鍍行業、各種材質，塑膠，木頭，玻璃等等物質中的有害元素檢測
電鍍行業檢測

環保是世界的潮流，但是不斷出現的環境污染事件，使人們日益關注自身的健康，關注有害元素對人的危害，**都陸續了相關控制商品中有害元素含量的法規，而且對有害元素的限制值日漸降低，例如，2006年7月1日實施的歐盟RoHS指令中鉛元素限制值是1000ppm，09年實施的美國消費品安全法（簡稱CPSIA）,鉛元素限制值降低到90ppm,面對市場需求,秉承“天瑞儀器,無微不至”的精神,采用新技術,特別設計了SUPER系列的X熒光光譜儀。
性能優勢
采用特的光路設計和雙引擎設計，并結合使用多組濾片和多組光管激發材的切換，大大地降低了儀器的信噪比，使該儀器在X熒光設備中具有的元素檢出限。
大器穩重、準確無損
大樣品腔設計，適合于不同大小和形狀的樣品測試。采用了多重信號的電路處理和濾波技術，使測試較加穩定準確。
自動化程度高、高清攝像頭
儀器多組濾片和光路自動切換，自動升降測試蓋，高清攝像頭。
軟件
軟件，特別針對玩具指令檢測的應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、操作簡易、對操作人員限制小的特點。
人性化設計
具有現代化的外觀，結構和色彩，上蓋電動控制開關，較人性化。
技術參數
元素分析范圍：硫（S）～鈾（U）
分析含量：0.1ppm～99.9%
重復性：0.1%
穩定性：0.1%
環境溫度 ：15℃～30℃
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）
儀器配置
**銳X光源和一樣品激發機構 
上蓋電動開關的大容量樣品腔 
可自動切換的準直器，濾光片 
高清晰CCD攝像頭 
Si-PIN探測器 
信號檢測電子電路 
高低壓電源 
計算機及噴墨打印機 
X熒光分析軟件

EDX系列特點介紹
X熒光光譜分析儀器是使用X射線照射試樣，對產生的X射線熒光進行解析，用以分析試樣元素和含量的裝置。由于X熒光光譜儀器使用方便、快捷，精度高，成本低等特點，已經在很多行業得到廣泛的應用。尤其在地質礦產行業，其應用較得到客戶的認可，它們具有以下特點： 
1、 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素，并達到測量精度要求。
2、 X熒光光譜分析儀是能量色散的設備，其結構簡單，可靠性高，對環境要求較低，可以使用在生產*，并對操作人員的要求也很低。維修方便，維護成本很低。
3、 它采用進口**上的UHRD探測器，分辨率可達到128eV以上，并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用較加方便，并且運行成本比同類的其他產品較低。便攜式Pocket系列分辨率可達到180±5eV。
4、 臺式系列X熒光光譜分析儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析?？煞治龅脑胤秶鷱腘a到U，便攜式Pocket系列可分析元素范圍從S到U。
5、 它們是非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
6、 由于臺式系列X熒光光譜分析儀產品測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性較高。及其系列產品的分析精度**0.05％，檢出限可高達2ppm（不同的樣品其指標有所不同）。
7、 可以一次分析二十四種元素，并且同時報告結果。在實際應用中，對主元素與參考元素可以同時分析，這非常適合*生產工藝的要求，同時對產品失效快速分析提供依據。 
8、 測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可儀器狀態，設定儀器參數，并就有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
9、 便攜式系列X熒光光譜分析儀堅固耐用、穩定可靠、使用靈活、校準方便等特點，化PDA測試軟件使在測試時高靈敏度、藍牙通訊、高速度、多模式多元素自動定性定量分析，便攜、方便使用，便于客戶在現場分析和原位分析。
EDX系列應用范圍
臺式系列和便攜式系列X熒光光譜分析儀，已經在礦產行業中得到了實際廣泛應用并得到客戶的認可。礦產行業應用客戶及應用范圍如下：
 測試陶瓷、古陶瓷、青銅器等，作年代和真偽堅定
 測試各種礦樣和實驗研究
測試鐵氧體材料及磁性材料配比成分

1、X射線熒光光譜法是一種現代儀器分析方法，通過X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品；受激發的樣品中的每一種元素會發出特征X射線（二次X射線）——這種特征X射線具有特定的能量和波長特性（莫塞萊定律），這些放射出來的二次X射線的能量及數量被探測系統測量，通過配套軟件將這些射線信號轉化為樣品中各種組分元素的具體含量。
1.1 設備及試劑 
設備：X射線熒光光譜儀一臺；電子天平一臺（精度0.01g）；自動壓片機一臺（壓力不小于40T）；鼓風干燥箱一臺；振動磨一臺；非金屬樣品篩（200目） 
試劑： 粉末（分析純）；土壤標準物質；土壤樣品 
1.2 樣品的采集、保存和前處理 
土壤樣品的采集和保持按照HJ/T166執行，樣品的風干或烘干按照HJ/T166相關規定進行操作，樣品研磨后過200目篩，于105℃烘干備用。 
用電子天平稱量5.00g過篩（200目）的土壤標準物質或樣品和12.00g粉末（鑲邊材質），稱量誤差±0.05g。然后放入壓片機中壓片成型，壓力30T（壓力范圍20～30T）,保壓時間30s。 
1.3 工作曲線的建立和樣品分析 
設定適當的測量條件，使用EDX3200S PLUS掃描標準物質（簡稱標樣）GSS-1～GSS-15，建立土壤標樣中關注元素含量與強度的線性工作曲線。然后，對未知樣品進行測量。
2. 測量及數據分析 
2.1 土壤中關注的金屬元素及氧化物檢出限測量 
 配有三組濾光片，根據土壤中關注元素的特性，設置測試條件。用土壤標樣GSS-1-GSS-15標定儀器，建立環境土壤工作曲線。在環境土壤工作曲線下，使用高純SiO2 做空白基體，連續測試11次，根據檢出限公式： 3倍的空白基體的標準偏差除以儀器的靈敏度 
終獲得測量土壤樣品的方法檢出限
產品名稱：X熒光光譜儀 
測量元素范圍：從鈉（S）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—**（不同元素，分析范圍不同） 
同時分析元素：一次性可測幾十種元素 
測量時間：60秒-300秒 
探測器能量分辨率為：可達125eV
管壓：5KV-70KV 
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環境溫度：15℃-30℃ 
環境濕度：35%-70%
外形尺寸：380mm×360mm×418mm 
性能特點 
**薄窗X光管，指標達到**水平 
新的數字多道技術，讓測試較快，計數率達到100000cps，精度較高。
FastSDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背
自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元 
針對不同元素自動切換濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣 
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
儀器具備安全許可證，且對設備進行三重X射線屏蔽設計，保證了環境下無泄漏，讓測試人員安全放心的使用
硬件聯動裝置，權限安全鎖，保證軟件失效的情況下還能對設備進行控制，保證設備在使用中的安全無放射
標準配置 
**薄窗X光管 
Fast SDD硅漂移探測器 
數字多道技術
光路增強系統 
高信噪比電子線路單元 
自動切換濾光片 
自動穩譜裝置 
三重安全保護模式 
相互的基體效應校正模型 
多變量非線性回歸程序
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